코그넥스/적용 산업
COGNEX(코그넥스) 반도체 솔루션_웨이퍼 검사
웨이퍼 검사 모든 공정 레이어에서 결함 감지하는 AI 기반 웨이퍼 검사 시스템으로 반도체 수율을 극대화합니다. 고수율 반도체 제조를 위한 AI 기반 웨이퍼 검사 미세한 균열, 엣지 결함, 오염, 패턴 변화, 정렬 문제를 감지하는 것은 칩 수율과 신뢰성을 좌우할 수 있습니다. 기존의 검사 방법은 복잡한 다층 배경과 최신 웨이퍼 처리를 정의하는 예측할 수 없는 결함 변형으로 인해 어려움을 겪습니다. Cognex AI 기반 웨이퍼 검사 기술은 이러한 복잡성을 줄여 공장을 효율적으로 가동할 수 있는 자동화된 전체 웨이퍼 결함 검사 기능을 제공합니다 권장 제품1. In-Sight 3800 시리즈 최신 AI 기술인 엣지 러닝(Edge Learning)과 딥러닝 도구를 모두 갖춘 고속 시스템입니다. 특징: 고해상도와..
